กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning electron microscope)

ใช้ศึกษาผิวของเซลล์หรือผิวของตัวอย่างวัตถุที่นำมาศึกษา โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพซึ่งมีลักษณะ เป็นภาพ 3 มิติ ทางศูนย์เปิดให้บริการเครื่องSEM ยี่ห้อ LEO รุ่น LEO 1450 VP พร้อมด้วย secondary electron detector, robinson backscatter electron detector , variable pressure detector และ X-rays detector หรือเทคนิค Energy Dispersive Spectroscopy, EDS หรือที่เรียกว่า EDX ซึ่งสามารถรองรับงานการ ศึกษาสภาพพื้นผิวของตัวอย่าง ทางวิทยาศาสตร์ชีวภาพ วิทยาศาสตร์กายภาพ และวัสดุศาสตร์ทั้งที่ผ่านการเคลือบและไม่เคลือบด้วยโลหะ การวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของวัสดุ

 

+ หลักการทำงาน

 

 

BetFair F.BetRoll UK Bookies
Top United Kingdom Bookmakers http://betroll.co.uk/